課程說明
數位積體電路的量產測試。生產測試所用方法概述。測試方案與可測試性設計。故障與故障模型、良率估計、可測性指標、故障模擬、測試生成方法、序列測試、掃描設計、邊界掃描、內建自測（BIST）、CMOS測試。
原文參考文本
Production testing of digital integrated circuits. Outline of methods of testing used in production. Testing schemes and design for testability. Faults and fault models, yield estimates, testability measures, fault simulation, test generation methods, sequential testing, scan design, boundary scan, built-in self test, CMOS testing.
來源與參考
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來源參考 : https://calendar.carleton.ca/grad/courses/ELEC/