الوصف
اختبار الإنتاج للدوائر المتكاملة الرقمية. مخطط طرق الاختبار المستخدمة في الإنتاج. مخططات الاختبار وتصميم للاختبارية. الأعطال ونماذج الأعطال، تقديرات العائد، مقاييس القابلية للاختبار، محاكاة الأعطال، طرق توليد الاختبارات، الاختبار التسلسلي، تصميم المسح، المسح الحدّي، الاختبار الذاتي المضمن، اختبار CMOS.
نص المرجع بلغته الأصلية
Production testing of digital integrated circuits. Outline of methods of testing used in production. Testing schemes and design for testability. Faults and fault models, yield estimates, testability measures, fault simulation, test generation methods, sequential testing, scan design, boundary scan, built-in self test, CMOS testing.
المصادر والمراجع
يتم الاحتفاظ بالتواريخ والمصادر لمساعدتك في التحقق من المعلومات. تُعرض ترجمات لتسهيل القراءة؛ المصدر الرسمي هو المرجع للشروط والمتطلبات.
مرجع المصدر : https://calendar.carleton.ca/grad/courses/ELEC/