Description
Tests de production de circuits intégrés numériques. Aperçu des méthodes de test utilisées en production. Schémas de test et conception pour testabilité. Défauts et modèles de défauts, estimations de rendement, mesures de testabilité, simulation de défauts, méthodes de génération de tests, test séquentiel, conception scan, boundary scan, test intégré (BIST), tests CMOS.
Texte de référence dans sa langue d’origine
Production testing of digital integrated circuits. Outline of methods of testing used in production. Testing schemes and design for testability. Faults and fault models, yield estimates, testability measures, fault simulation, test generation methods, sequential testing, scan design, boundary scan, built-in self test, CMOS testing.
Sources et références
Les dates et les sources sont conservées pour vous aider à vérifier les renseignements. Les traductions sont proposées pour faciliter la lecture; la source officielle fait référence pour les conditions et les exigences.
Référence source : https://calendar.carleton.ca/grad/courses/ELEC/