Descripción
Pruebas de producción de circuitos integrados digitales. Esquema de métodos de prueba utilizados en producción. Esquemas de prueba y diseño para testabilidad. Fallos y modelos de fallo, estimaciones de rendimiento, medidas de testabilidad, simulación de fallos, métodos de generación de pruebas, pruebas secuenciales, diseño scan, boundary scan, autotest integrado (BIST), pruebas CMOS.
Texto de referencia en su idioma de origen
Production testing of digital integrated circuits. Outline of methods of testing used in production. Testing schemes and design for testability. Faults and fault models, yield estimates, testability measures, fault simulation, test generation methods, sequential testing, scan design, boundary scan, built-in self test, CMOS testing.
Fuentes y referencias
Se conservan las fechas y las fuentes para ayudarle a verificar la información. Las traducciones se proponen para facilitar la lectura; la fuente oficial es la referencia para las condiciones y los requisitos.
Referencia de la fuente : https://calendar.carleton.ca/grad/courses/ELEC/