Carleton University · ELEC 5600

การทดสอบวงจรรวมดิจิทัล

ชื่อตามทางการ : Digital Integrated Circuit Testing

หน่วยกิต : 0.5 creditปีอ้างอิง : 2026-27

คำอธิบาย

การทดสอบการผลิตของวงจรรวมดิจิทัล โครงร่างของวิธีการทดสอบที่ใช้ในการผลิต โครงการทดสอบและการออกแบบเพื่อความทดสอบได้ ข้อบกพร่องและแบบจำลองข้อบกพร่อง การประมาณผลผลิต มาตรการความทดสอบได้ การจำลองข้อบกพร่อง วิธีการสร้างชุดทดสอบ การทดสอบลำดับ การออกแบบสแกน การสแกนขอบเขต การทดสอบตัวเองในตัว (BIST) การทดสอบ CMOS

ข้อความอ้างอิงในภาษาต้นฉบับ

Production testing of digital integrated circuits. Outline of methods of testing used in production. Testing schemes and design for testability. Faults and fault models, yield estimates, testability measures, fault simulation, test generation methods, sequential testing, scan design, boundary scan, built-in self test, CMOS testing.

    แหล่งที่มาและอ้างอิง

    วันที่และแหล่งที่มาถูกเก็บไว้เพื่อช่วยให้คุณตรวจสอบข้อมูล การแปลเสนอเพื่ออำนวยความสะดวกในการอ่าน แหล่งทางการเป็นที่อ้างอิงสำหรับเงื่อนไขและข้อกำหนด

    แหล่งอ้างอิง : https://calendar.carleton.ca/grad/courses/ELEC/

    ติดต่อ StudyCanada

    บอกแผนการเรียนหรือคำถามของคุณ แล้วเราจะติดต่อกันต่อทางอีเมล

    เราจะใช้ข้อมูลติดต่อนี้เพื่อตอบคำถามของคุณ ความเป็นส่วนตัว

    แบบฟอร์มนี้ส่งถึง StudyCanada หากต้องการติดต่อสถานศึกษา โปรดใช้ข้อมูลติดต่อในหน้าของสถานศึกษานั้น