คำอธิบาย
การทดสอบการผลิตของวงจรรวมดิจิทัล โครงร่างของวิธีการทดสอบที่ใช้ในการผลิต โครงการทดสอบและการออกแบบเพื่อความทดสอบได้ ข้อบกพร่องและแบบจำลองข้อบกพร่อง การประมาณผลผลิต มาตรการความทดสอบได้ การจำลองข้อบกพร่อง วิธีการสร้างชุดทดสอบ การทดสอบลำดับ การออกแบบสแกน การสแกนขอบเขต การทดสอบตัวเองในตัว (BIST) การทดสอบ CMOS
ข้อความอ้างอิงในภาษาต้นฉบับ
Production testing of digital integrated circuits. Outline of methods of testing used in production. Testing schemes and design for testability. Faults and fault models, yield estimates, testability measures, fault simulation, test generation methods, sequential testing, scan design, boundary scan, built-in self test, CMOS testing.
แหล่งที่มาและอ้างอิง
วันที่และแหล่งที่มาถูกเก็บไว้เพื่อช่วยให้คุณตรวจสอบข้อมูล การแปลเสนอเพื่ออำนวยความสะดวกในการอ่าน แหล่งทางการเป็นที่อ้างอิงสำหรับเงื่อนไขและข้อกำหนด
แหล่งอ้างอิง : https://calendar.carleton.ca/grad/courses/ELEC/