説明
デジタル集積回路の生産試験。生産で用いられる試験方法の概説。試験スキームと試験容易性設計。故障と故障モデル、歩留まり推定、試験可能性指標、故障シミュレーション、テスト生成法、逐次試験、スキャン設計、ボーダースキャン、組込み自己試験、CMOS試験。
原語による参照テキスト
Production testing of digital integrated circuits. Outline of methods of testing used in production. Testing schemes and design for testability. Faults and fault models, yield estimates, testability measures, fault simulation, test generation methods, sequential testing, scan design, boundary scan, built-in self test, CMOS testing.
出典と参照
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出典の参照 : https://calendar.carleton.ca/grad/courses/ELEC/