Deskripsi
Pengujian produksi sirkuit terintegrasi digital. Garis besar metode pengujian yang digunakan dalam produksi. Skema pengujian dan desain untuk keterujian. Fault dan model fault, estimasi yield, ukuran keterujian, simulasi fault, metode generasi tes, pengujian sekuensial, desain scan, boundary scan, built-in self test, pengujian CMOS.
Teks rujukan dalam bahasa aslinya
Production testing of digital integrated circuits. Outline of methods of testing used in production. Testing schemes and design for testability. Faults and fault models, yield estimates, testability measures, fault simulation, test generation methods, sequential testing, scan design, boundary scan, built-in self test, CMOS testing.
Sumber dan referensi
Tanggal dan sumber disimpan untuk membantu Anda memverifikasi informasi. Terjemahan disediakan untuk memudahkan pembacaan; sumber resmi menjadi rujukan untuk syarat dan ketentuan.
Referensi sumber : https://calendar.carleton.ca/grad/courses/ELEC/