Описание
Контроль производства цифровых интегральных схем. Обзор методов тестирования, используемых в производстве. Схемы тестирования и проектирование для тестируемости. Отказы и модели отказов, оценки выхода продукции, меры тестируемости, симуляция отказов, методы генерации тестов, последовательное тестирование, скан-дизайн, boundary scan, встроенный самотест (BIST), тестирование CMOS.
Текст источника на языке оригинала
Production testing of digital integrated circuits. Outline of methods of testing used in production. Testing schemes and design for testability. Faults and fault models, yield estimates, testability measures, fault simulation, test generation methods, sequential testing, scan design, boundary scan, built-in self test, CMOS testing.
Источники и ссылки
Даты и источники сохраняются, чтобы помочь вам проверить сведения. Переводы предлагаются для удобства чтения; официальным источником для условий и требований является оригинал.
Исходная ссылка : https://calendar.carleton.ca/grad/courses/ELEC/