Mô tả
Kiểm tra sản xuất mạch tích hợp số. Phác thảo các phương pháp kiểm tra dùng trong sản xuất. Sơ đồ kiểm tra và thiết kế để kiểm tra (design for testability). Lỗi và mô hình lỗi, ước tính năng suất, các chỉ số khả năng kiểm tra, mô phỏng lỗi, phương pháp sinh test, kiểm tra tuần tự, thiết kế scan, boundary scan, built-in self test, kiểm tra CMOS.
Văn bản tham chiếu bằng ngôn ngữ gốc
Production testing of digital integrated circuits. Outline of methods of testing used in production. Testing schemes and design for testability. Faults and fault models, yield estimates, testability measures, fault simulation, test generation methods, sequential testing, scan design, boundary scan, built-in self test, CMOS testing.
Nguồn và tham khảo
Ngày và nguồn được giữ lại để giúp bạn kiểm tra thông tin. Các bản dịch được cung cấp để dễ đọc; nguồn chính thức là tham chiếu cho các điều kiện và yêu cầu.
Nguồn tham khảo : https://calendar.carleton.ca/grad/courses/ELEC/