Descrição
Teste de produção de circuitos integrados digitais. Visão geral dos métodos de teste usados na produção. Esquemas de teste e projeto para testabilidade. Falhas e modelos de falha, estimativas de rendimento, medidas de testabilidade, simulação de falhas, métodos de geração de testes, teste sequencial, projeto scan, boundary scan, built-in self test, teste de CMOS.
Texto de referência na sua língua de origem
Production testing of digital integrated circuits. Outline of methods of testing used in production. Testing schemes and design for testability. Faults and fault models, yield estimates, testability measures, fault simulation, test generation methods, sequential testing, scan design, boundary scan, built-in self test, CMOS testing.
Fontes e referências
As datas e as fontes são mantidas para ajudá-lo a verificar os dados. As traduções são propostas para facilitar a leitura; a fonte oficial é a referência para condições e exigências.
Fonte de referência : https://calendar.carleton.ca/grad/courses/ELEC/