설명
디지털 집적회로의 생산 테스트. 생산에서 사용되는 테스트 방법 개요. 테스트 체계 및 설계 검사용 디자인(DFT). 결함 및 결함 모델, 수율 추정, 테스트 가능성 측정, 결함 시뮬레이션, 테스트 생성 기법, 순차 테스트, 스캔 설계, 바운더리 스캔, 자체내장형 자가검사(BIST), CMOS 테스트.
원문 참조 텍스트
Production testing of digital integrated circuits. Outline of methods of testing used in production. Testing schemes and design for testability. Faults and fault models, yield estimates, testability measures, fault simulation, test generation methods, sequential testing, scan design, boundary scan, built-in self test, CMOS testing.
출처 및 참고문헌
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출처 참조 : https://calendar.carleton.ca/grad/courses/ELEC/