Beskrivelse
Produksjonstesting av digitale integrerte kretser. Oversikt over metoder som brukes i produksjonstesting. Testskjemaer og design for testbarhet. Feil og feilmodeller, avkastningsestimat, testbarhetsmål, feilsimulering, testgenereringsmetoder, sekvensiell testing, scan-design, boundary-scan, innebygd selvtest, CMOS-testing.
Referansetekst i originalspråket
Production testing of digital integrated circuits. Outline of methods of testing used in production. Testing schemes and design for testability. Faults and fault models, yield estimates, testability measures, fault simulation, test generation methods, sequential testing, scan design, boundary scan, built-in self test, CMOS testing.
Kilder og referanser
Datoer og kilder beholdes for å hjelpe deg å verifisere opplysningene. Oversettelsene tilbys for å lette lesing; den offisielle kilden er referansen for krav og betingelser.
Kildereferanse : https://calendar.carleton.ca/grad/courses/ELEC/