Açıklama
Dijital entegre devrelerin üretim testleri. Üretimde kullanılan test yöntemlerinin taslağı. Test şemaları ve test edilebilirlik için tasarım. Arızalar ve arıza modelleri, verim tahminleri, test edilebilirlik ölçüleri, arıza simülasyonu, test üretim yöntemleri, ardışık test, tarama tasarımı, sınır tarama, dahili kendi kendine test, CMOS testi.
Kaynak metin orijinal dilinde
Production testing of digital integrated circuits. Outline of methods of testing used in production. Testing schemes and design for testability. Faults and fault models, yield estimates, testability measures, fault simulation, test generation methods, sequential testing, scan design, boundary scan, built-in self test, CMOS testing.
Kaynaklar ve referanslar
Tarih ve kaynaklar bilgileri doğrulamanıza yardımcı olmak için saklanır. Okumayı kolaylaştırmak için çeviriler sunulmuştur; koşullar ve gereksinimler için resmi kaynak esas alınır.
Kaynak referans : https://calendar.carleton.ca/grad/courses/ELEC/