描述
亚微米工艺下数字 CMOS 与 BiCMOS 电路设计的模拟方面，包括可靠性；采样模拟电路，包括放大器非理想特性与开关电荷注入；CMOS/BiCMOS 放大器设计注意事项，涉及折叠-级联和两级电路的标准设计。
原文参考文本
The analog aspects of digital CMOS and BiCMOS circuit design in submicron technologies including reliability; sampled analog circuits, including amplifier non-ideal characteristics and switch charge injection; CMOS/BiCMOS amplifier design considerations, leading up to standard folded-cascode and two-stage circuits.
来源与参考
为帮助您核实信息，保留了日期和来源。为便于阅读提供了翻译；以官方来源为准，查看条件和要求。
来源参考 : https://calendar.carleton.ca/grad/courses/ELEC/