Carleton University · ELEC 5706

دوائر CMOS وBiCMOS دون ميكرون لتطبيقات البيانات المأخوذة عينات

العنوان الرسمي : Submicron CMOS and BiCMOS Circuits for Sampled Data Applications

الساعات المعتمدة : 0.5 وحدةسنة المرجع : 2026-27

الوصف

الجوانب التناظرية لتصميم دوائر CMOS وBiCMOS الرقمية في تقنيات دون ميكرون بما في ذلك الموثوقية؛ الدوائر التناظرية المأخوذة عينات، بما في ذلك خصائص عدم المثالية للمضخم واستيفاء شحنة المفتاح؛ اعتبارات تصميم مضخمات CMOS/BiCMOS، وصولاً إلى دوائر الكاسكود المطوية والدوائر ذات المرحلتين القياسية.

نص المرجع بلغته الأصلية

The analog aspects of digital CMOS and BiCMOS circuit design in submicron technologies including reliability; sampled analog circuits, including amplifier non-ideal characteristics and switch charge injection; CMOS/BiCMOS amplifier design considerations, leading up to standard folded-cascode and two-stage circuits.

    المصادر والمراجع

    يتم الاحتفاظ بالتواريخ والمصادر لمساعدتك في التحقق من المعلومات. تُعرض ترجمات لتسهيل القراءة؛ المصدر الرسمي هو المرجع للشروط والمتطلبات.

    مرجع المصدر : https://calendar.carleton.ca/grad/courses/ELEC/

    تواصل مع StudyCanada

    أخبرنا بخطتك أو سؤالك، ونواصل الحديث عبر البريد الإلكتروني.

    سنستخدم معلومات الاتصال هذه للرد على طلبك. الخصوصية

    هذا النموذج موجّه إلى StudyCanada. للتواصل مع المؤسسة التعليمية، استخدم بيانات الاتصال في صفحتها.