Carleton University · ELEC 5706

サンプルドデータ用途のサブミクロンCMOSおよびBiCMOS回路

公式名称 : Submicron CMOS and BiCMOS Circuits for Sampled Data Applications

単位数 : 0.5 単位参照年 : 2026-27

説明

サブミクロン技術におけるCMOSおよびBiCMOS回路設計のアナログ側面(信頼性を含む);サンプリングされたアナログ回路、増幅器の非理想特性およびスイッチ電荷注入を含む;CMOS/BiCMOS増幅器設計の考慮事項、標準的なフォールドド・カスコードおよび2段回路に至る設計。

原語による参照テキスト

The analog aspects of digital CMOS and BiCMOS circuit design in submicron technologies including reliability; sampled analog circuits, including amplifier non-ideal characteristics and switch charge injection; CMOS/BiCMOS amplifier design considerations, leading up to standard folded-cascode and two-stage circuits.

    出典と参照

    日付と出典は、情報を確認する際の参考のために保持されています。翻訳は読みやすくするための提案であり、条件や要件については公式の出典が基準となります。

    出典の参照 : https://calendar.carleton.ca/grad/courses/ELEC/

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