Carleton University · ELEC 5706

Submikron CMOS- og BiCMOS-kretser for prøvetakingsapplikasjoner

Offisiell tittel : Submicron CMOS and BiCMOS Circuits for Sampled Data Applications

Studiepoeng : 0.5 kreditReferanseår : 2026-27

Beskrivelse

De analoge aspektene ved digitale CMOS- og BiCMOS-kretsdesign i submikron-teknologier inkludert pålitelighet; prøvetakingsbaserte analoge kretser, inkludert ikke-ideelle forsterkeregenskaper og switch-ladningsinjeksjon; CMOS/BiCMOS-forsterkerdesignhensyn, med vekt på standard folded-cascode og two-stage kretser.

Referansetekst i originalspråket

The analog aspects of digital CMOS and BiCMOS circuit design in submicron technologies including reliability; sampled analog circuits, including amplifier non-ideal characteristics and switch charge injection; CMOS/BiCMOS amplifier design considerations, leading up to standard folded-cascode and two-stage circuits.

    Kilder og referanser

    Datoer og kilder beholdes for å hjelpe deg å verifisere opplysningene. Oversettelsene tilbys for å lette lesing; den offisielle kilden er referansen for krav og betingelser.

    Kildereferanse : https://calendar.carleton.ca/grad/courses/ELEC/

    Skriv til StudyCanada

    Fortell om planene dine eller still et spørsmål. Vi fortsetter på e-post.

    Vi bruker kontaktopplysningene til å svare på henvendelsen din. Personvern

    Dette skjemaet sendes til StudyCanada. For å kontakte skolen, bruk kontaktopplysningene i skoleprofilen.